關(guān)于舉辦“電子元器件與可靠性應(yīng)用審核及失效分析高級講座咨詢會”的通知

　　各有關(guān)單位:

　　隨著電子電器產(chǎn)品的體積與重量日益縮小，技術(shù)含量不斷擴大、智能化程度成倍提高，高分子材料、微電子器件廣泛應(yīng)用于各領(lǐng)域及其產(chǎn)品，相關(guān)的質(zhì)量檢驗工作肩負著與產(chǎn)品質(zhì)量密切相關(guān)的鑒別、把關(guān)、預(yù)防、報告和監(jiān)督等職能。為了幫助廣大從業(yè)人員系統(tǒng)全面掌握電子產(chǎn)品與元器件檢測技能及失效案例的分析方法.我會定于5 月 15-17 日在蘇州舉辦”電子元器件與可靠性應(yīng)用審核及失效分析高級講座咨詢會”

　　具體安排如下:

　　課程特色：專門針對電子元器件及電路可靠性應(yīng)用的潛在問題，結(jié)合標準規(guī)范及案例進行現(xiàn)場答疑

　　一、參加對象

　　1、各企事業(yè)單位從事電子電器相關(guān)的工作人員(電子電氣檢測實驗室工作人員、產(chǎn)品研發(fā)、技術(shù)、品質(zhì)管理、安全監(jiān)督、可靠性設(shè)計、質(zhì)量檢驗、測試、采購等);

　　2、各大、專院校、職業(yè)技術(shù)學(xué)院等電子專業(yè)相關(guān)人員;

　　3、使用相關(guān)儀器和測試裝置對半導(dǎo)體器件、光電子器件、電真空器件、機電元件、通用元件及特種元件進行質(zhì)量檢驗的人員。

　　二、課程大綱：

　　1、電子可靠性設(shè)計原則

　　1.1 RAMS 定義與評價指標;

　　1.2 電子、機電一體化設(shè)備的可靠性模型;

　　1.3 系統(tǒng)失效率的影響要素;

　　1.4 電子產(chǎn)品可靠性指標;

　　1.5 工作環(huán)境條件的確定;

　　1.6 系統(tǒng)設(shè)計與微觀設(shè)計的區(qū)別;

　　1.7 過程審查與測試;

　　1.8 設(shè)計規(guī)范與技術(shù)標準;

　　2、電路可靠性設(shè)計規(guī)范

　　2.1 降額設(shè)計：各種器件的降額參數(shù)和降額因子、結(jié)溫降額的計算、降額設(shè)計規(guī)范、參 考標準;

　　2.2 電路熱設(shè)計規(guī)范：熱設(shè)計基礎(chǔ)、熱設(shè)計計算、散熱方案選擇、熱設(shè)計測試、散熱器件選型;

　　2.3 電路安全性設(shè)計規(guī)范;

　　2.4 電路板 EMC 設(shè)計規(guī)范;

　　2.4 PCB 設(shè)計規(guī)范：電路基板設(shè)計規(guī)范、PCB 布局設(shè)計規(guī)范、布線規(guī)范、阻抗匹配、模擬電路設(shè)計、PCB 設(shè)計中地的分割方法和原則;

　　2.5 可用性設(shè)計規(guī)范：可用性設(shè)計要素、用戶操作分析、設(shè)計準則;

　　2.6 可維修性設(shè)計規(guī)范：可維修性設(shè)計要素、可維修性評估標準、設(shè)計方法;

　　3、元器件選型應(yīng)用與失效機理

　　3.1 電子元器件的選型基本原則;

　　3.2 分立元件：分類、特性、選型指標、失效機理、應(yīng)用注意事項(電阻、電容、二極管三極管、接插件、晶振晶體)

　　3.3 電控光學(xué)器件(光耦、LED)：特性、選型指標;

　　3.4 AD/DA：特性、選型指標、可靠性設(shè)計注意事項;

　　3.5 電控機械動作器件：特性、選型指標、可靠性、失效機理;

　　3.6 能量轉(zhuǎn)換器件：特性、選型指標;

　　(開關(guān)電源、電源變換芯片、變壓器)

　　3.7 數(shù)字 IC：分類、特性、選型指標;

　　3.8 保護器件：分類、特性、選型指標;

　　(保險絲、磁環(huán)磁珠、壓敏電阻、TVS 管等)

　　3.9 電源選型;

　　4、元器件失效機理與分析方法

　　4.1 常見元器件失效機理;

　　4.2 分析方法;

　　4.3 失效分析輔助工具;

　　5、可靠性測試

　　5.1 環(huán)境條件測試項目及測試用例

　　溫度與熱、濕度、氣壓、環(huán)境條件變化率等測試項目及測試用例

　　5.2 安全性測試項目和測試方法

　　安規(guī)測試項目和測試用例

　　氣、液、電混合布局安規(guī)測試用例

　　5.3 可靠性測試項目與測試用例設(shè)計

　　模擬用戶現(xiàn)場測試、邊緣極限條件組合測試、HALT 綜合測試、異常操作測試

　　過渡過程測試、突發(fā)干擾測試

　　5.4 可維修性測試項目及測試用例

　　可維修性等級分類、可維修性測試項目、測試用例

　　5.5 可生產(chǎn)性測試項目及測試用例

　　可生產(chǎn)性評估指標、可生產(chǎn)性測試項目、可生產(chǎn)性測試用例

　　5.6 可用性測試項目及測試用例

　　易用性測試項目(人體工學(xué)、使用方便、易接受、舒適、高效，防錯)

　　人機工效評價工具應(yīng)用;

　　應(yīng)用人員測試項目及測試用例(生理、心理、素質(zhì)、緊急情況處理、輸入輸出條件組合)

　　5.7 部件與獨立分系統(tǒng)測試項目及測試用例(機械、電氣、嵌入式軟件模塊測試項目、測試儀器、測試用例)

　　5.8 結(jié)構(gòu)和電氣結(jié)合的可靠性問題

　　5.9 結(jié)構(gòu)熱設(shè)計

　　三、培訓(xùn)時間地點：

　　蘇州 2014 年 5 月 15 日-5 月 17 日

　　四、培訓(xùn)費用：

　　1.會務(wù)費 2200 元/人(含會議場地、師資、專業(yè)理論、教材資料費)

　　2.食宿統(tǒng)一安排，費用自理

　　五、報名方式：參加會議的學(xué)員認真填寫報名回執(zhí)表，請于 5 月10 日前將報名回執(zhí)回傳至?xí)?wù)組。

　　報名聯(lián)系人：何 明(13366844564)

　　電話: 010-59506931

　　傳真： 010-52633863

　　咨詢 QQ：1668045831     (昵稱:北京歡迎您)

　　指定專用報名郵箱：cesiheming@126.com

　　中國電子節(jié)能技術(shù)協(xié)會節(jié)能技術(shù)咨詢委員會

　　二零一四年四月二日

　　電子元器件與可靠性應(yīng)用審核及失效分析講座報名表

　　報名聯(lián)系人：何 明(13366844564)  傳真： 010-52633863

　　報名郵箱：cesiheming@126.com

　　此表可復(fù)印                                      何 明(13366844564)